Microscop de forță atomică

Microscopul de forță atomică (AFM, din engleză Atomic force microscopy) este un tip de microscop cu rezoluție foarte înaltă, sub un nanometru.[1] Informația este preluată ca urmare a „atingerii” probei cu un element mecanic, precum piezoelectric. AFM permite determinarea proprietăților topografice, magnetice, chimice, optice și mecanice de la suprafața unei probe în aer, lichide sau la vid ultra-înalt.[2]

Note
  1. „Measuring and Analyzing Force-Distance Curves with Atomic Force Microscopy” (PDF). afmworkshop.com.
  2. „What is AFM? Learn about Atomic Force Microscopy!”, Nanoandmore.com, accesat în

Vezi și
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.